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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2 2001.05[民90.05]
- 頁 次:
頁17-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
88:1=523 2001.01[民90.01]
- 頁 次:
頁42-50
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
251 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁83-93
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
81 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁94-101
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
80 2001.01[民90.01]
- 頁 次:
頁102-106
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21:1 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁 129-146
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁92-106
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁107-117
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:5 2001.09[民90.09]
- 頁 次:
頁619-628
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題 名:
技術學院專科部重要特質之研究--以中國、德明、致理、醒吾四校為例:A Study of Important Characters for Institute of Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁71-98
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
9 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁163-182
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
179 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁62-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
260 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁50-61
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
187 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁164-170
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
18:2 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁6-11
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
45:7 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁40-42
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=314 2001.08[民90.08]
- 頁 次:
頁30-35
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- 題 名:
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編 次:
2
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
87 2001.08[民90.08]
- 頁 次:
頁114-122
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- 題 名:
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編 次:
1
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
86 2001.07[民90.07]
- 頁 次:
頁58-62