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題 名:
Fast Deterministic Test Pattern Generation for Scan-Based BIST Environment:掃描植入式自我測試環境之快速特定測試向量產生器
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁365-376
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題 名:
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題 名:
A BIST Architecture for AT-Speed DRAM Testing:動態記憶體之高速自我測試電路架構
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁387-394
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題 名:
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題 名:
The Experience in Fine-Tuning a Compiler Generated from an Attribute Grammar:對屬性文法產生之編譯器改善其效率之經驗
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:1 1997.02[民86.02]
- 頁 次:
頁75-82
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題 名: