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題 名:
同步輻射X光光刻術光束線系統特性研究:Characteristic Study of the X-Ray Lithography Beamline at SRRC
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁14-29
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:4 2001.12[民90.12]
- 頁 次:
頁12-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:1 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁20-23
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題 名:
非破壞性X光螢光膜厚之檢測:Nondestructive Coating Thickness Measurement by X-Ray Fluorescent
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 民86.03-04
- 頁 次:
頁58-64
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:1 2002.04[民91.04]
- 頁 次:
頁23-33
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:2 1992.09[民81.09]
- 頁 次:
頁22-29
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題 名:
X-Ray Reflectivity Measurement of a Silicon Oxide Layer on Si Wafer:矽晶片上氧化層的X光反射率測量
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:1 1993.04[民82.04]
- 頁 次:
頁4-11
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:1 2012.03[民101.03]
- 頁 次:
頁54-62
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3 2011.09[民100.09]
- 頁 次:
頁33-41
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2 2014.06[民103.06]
- 頁 次:
頁51-58
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:4 2015.12[民104.12]
- 頁 次:
頁27-35
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁36-43
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
19:4 2007.04[民96.04]
- 頁 次:
頁35-39
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:1 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁33-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:2 2010.06[民99.06]
- 頁 次:
頁20-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁11-16
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題 名:
X光吸收光譜:快速掃描實驗設施:X-ray Absorption Spectroscopy: Quick-scanning Experimental Technique
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁19-23
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題 名:
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題 名:
X光奈米繞射實驗站--奈米尺度下的結晶世界:X-ray Nano-diffraction Beanline: Crystal State in World of Nano-scale
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:4 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁24-31
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
338 2017.11[民106.11]
- 頁 次:
頁22-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:4 2017.12[民106.12]
- 頁 次:
頁33-42