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- 題 名:
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- 卷 期:
36:3 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁215-224
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:6 1999.12[民88.12]
- 頁 次:
頁405-415
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
37:6 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁453-467
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- 題 名:
氮化鎵雷射共振腔方向與其光增益之研究:Dependence of the Orientation of GaN-based Laser Cavity on the Optical Gain
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:3 2001.10[民90.10]
- 頁 次:
頁39-44
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:2=118 2000.10[民89.10]
- 頁 次:
頁31-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
68:3=417 1988.09[民77.09]
- 頁 次:
頁94-98
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5:2 1992.09[民81.09]
- 頁 次:
頁22-29
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
41:6 1994.12[民83.12]
- 頁 次:
頁797-802
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
30:6 1993.12[民82.12]
- 頁 次:
頁417-425
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:2=82 1994.10[民83.10]
- 頁 次:
頁58-71
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- 題 名:
X-Ray Reflectivity Measurement of a Silicon Oxide Layer on Si Wafer:矽晶片上氧化層的X光反射率測量
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:1 1993.04[民82.04]
- 頁 次:
頁4-11
- 題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:6=68 1992.06[民81.06]
- 頁 次:
頁57-68
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11:2 1989.04[民78.04]
- 頁 次:
頁187-200
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:2 1987.04[民76.04]
- 頁 次:
頁63-68
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:5 1987.10[民76.10]
- 頁 次:
頁66-71
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:4 1987.08[民76.08]
- 頁 次:
頁78-85
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
1:1 1987.11[民76.11]
- 頁 次:
頁31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:1 1987.02[民76.02]
- 頁 次:
頁9-18
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 2004.04[民93.04]
- 頁 次:
頁425-433