刊名
類目
出版年
資料類型
檢索結果筆數(1)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
在搜尋的結果範圍內查詢:
全部
排序
每頁顯示
1
奈米級CMOS元件製程參數之自動化量測與萃取:Automatic Measurement for Device/Process Parameters Extraction on Nano CMOS Devices
黃恆盛 段復元 Huang, Heng-sheng; Tuan, Fu-yuan;
臺北科技大學學報
35:1 2002.03[民91.03]
頁27-33
TCI引用統計