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檢索結果筆數(15)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:2=190 2012.10[民101.10]
- 頁 次:
頁4-12
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題 名:
高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統:An AOI System for Chip Backside Defects Based on a High Rate Line Scanner
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁41-50
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2=142 2004.10[民93.10]
- 頁 次:
頁27-39
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題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
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題 名:
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題 名:
自動化光學檢測--背光模組檢測機臺:The Application of Automatic Optical Inspection on Backlight Unit Inspector
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:3=155 民95.12
- 頁 次:
頁25-32
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
215 2018.06[民107.06]
- 頁 次:
頁46-58
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
220 2019.09[民108.09]
- 頁 次:
頁86-97
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
219 2019.06[民108.06]
- 頁 次:
頁47-57
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
226 2021.03[民110.03]
- 頁 次:
頁59-68
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁10-29
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁30-41
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題 名:
五自由度測量系統的開發與應用:Development and Application of Five-degree-of-freedom Measurement System
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁42-51
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁52-65
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題 名:
基於機器視覺與深度學習的面板切割缺陷檢測:Machine Vision and Deep Learning Based Scribe Defect Detection for LCD
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁66-75
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁76-87