查詢結果
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題 名:
高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統:An AOI System for Chip Backside Defects Based on a High Rate Line Scanner
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁41-50
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題 名:
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題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
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題 名:
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題 名:
晶片多面視覺檢測系統開發:A Machine Vision System Development for Inspecting Defects on Multi-Surfaces of Chips
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
208 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁31-43
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題 名: