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題 名:
高速線掃描之晶背瑕疵自動光學檢測系統:An AOI System for Chip Backside Defects Based on a High Rate Line Scanner
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:6=194 2013.06[民102.06]
- 頁 次:
頁41-50
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題 名:
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題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
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題 名:
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題 名:
晶片多面視覺檢測系統開發:A Machine Vision System Development for Inspecting Defects on Multi-Surfaces of Chips
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
208 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁31-43
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
221 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁88-100
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
220 2019.09[民108.09]
- 頁 次:
頁86-97
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題 名:
適用於大生物樣本之大口徑顯微物鏡開發:Development of Large Aperture Microscope Objectives for Large Biological Samples
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 2022.09[民111.09]
- 頁 次:
頁87-102
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
230 2022.03[民111.03]
- 頁 次:
頁83-86
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題 名:
磁熱治療的產熱機制及其腫瘤治療應用:Heating Mechanisms of Magnetic Hyperthermia for Tumor Therapy
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
233 2022.12[民111.12]
- 頁 次:
頁79-90
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁52-65