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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5=109 1999.04[民88.04]
- 頁 次:
頁6-12
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:5=121 2001.04[民90.04]
- 頁 次:
頁67-75
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:6=134 2003.06[民92.06]
- 頁 次:
頁62-70
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題 名:
電性掃描探針顯微術簡介:Introduction to Electric Scanning Probe Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3=131 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁27-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:2=136 2003.10[民92.10]
- 頁 次:
頁61-67
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題 名:
低溫複晶矽製造技術之動向:The Technology of Low Temperature Polysilicon Thin Film Transistor
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:4=132 2003.02[民92.02]
- 頁 次:
頁89-99
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
25:3=137 2003.12[民92.12]
- 頁 次:
頁62-70
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
53:1 民95.03
- 頁 次:
頁66-71
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:2=148 民94.10
- 頁 次:
頁7-15
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題 名:
多視角編列數位影像關係法量測系統:Introduction of Multiple-Camera Digital Image Correlation System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:5=193 2013.04[民102.04]
- 頁 次:
頁64-77
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題 名:
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題 名:
掃描探針顯微鏡之影像處理與分析:Image Process and Analysis of Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:3=143 2004.12[民93.12]
- 頁 次:
頁43-50
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題 名:
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題 名:
光擾對掃描電容顯微術之影響分析:The Influence of Photoperturbation on Scanning Capacitance Microscopy
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:1=141 2004.08[民93.08]
- 頁 次:
頁56-62
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題 名:
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題 名:
LED晶粒瑕疵自動光學檢測系統研發:An Automatic Optical Inspection System Development for LED Chip Defects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
202 2015.03[民104.03]
- 頁 次:
頁6-15
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題 名:
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題 名:
應用影像處理技術發展雨滴譜儀偵測系統:Development of Image Processing Based Disdrometer System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
204 2015.09[民104.09]
- 頁 次:
頁48-56
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題 名:
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題 名:
晶片多面視覺檢測系統開發:A Machine Vision System Development for Inspecting Defects on Multi-Surfaces of Chips
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
208 2016.09[民105.09]
- 頁 次:
頁31-43
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:1=171 2009.08[民98.08]
- 頁 次:
頁85-91
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題 名:
近紅外光譜儀之開發及應用:Development and Application of Near Infrared Spectrometer
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:2=160 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁80-90
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
221 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁88-100
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
220 2019.09[民108.09]
- 頁 次:
頁86-97