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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
22:4=120 2001.02[民90.02]
- 頁 次:
頁12-20
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1996.07[民85.07]
- 頁 次:
頁2-8
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題 名:
X光吸收光譜數據處理(2):Data Processing of X-ray Absorption Fine Spectroscopy(Ⅱ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 2003.05[民92.05]
- 頁 次:
頁57-67
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題 名:
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題 名:
X光吸收光譜數據處理(1):Data Processing of X-ray Absorption Fine Spectroscopy (Ⅰ)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:1 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁33-40
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題 名:
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題 名:
X-Ray Reflectivity Measurement of a Silicon Oxide Layer on Si Wafer:矽晶片上氧化層的X光反射率測量
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:1 1993.04[民82.04]
- 頁 次:
頁4-11
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
60 民95.03
- 頁 次:
頁18-19
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24 1987.06[民76.06]
- 頁 次:
頁15-16
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
38 2004.12[民93.12]
- 頁 次:
頁1-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
57 2005.01[民94.01]
- 頁 次:
頁12-15
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:4 2021.12[民110.12]
- 頁 次:
頁5-12
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:4 2021.12[民110.12]
- 頁 次:
頁21-26
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
123 2023.01[民112.01]
- 頁 次:
頁6-7