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檢索結果筆數(10)。
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題 名:
IC測試元件研製上的探討:
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作 者:
黃 文
- 書刊名:
機械工業
- 卷 期:
199 1999.10[民88.10]
- 頁 次:
頁148-156
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題 名:
IC測試元件研製上的探討:
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作 者:
黃□文
- 書刊名:
機械工程
- 卷 期:
234 2000.10[民89.10]
- 頁 次:
頁26-34
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題 名:
A Routing Algorithm for Sequential Circuit:循序電路的繞線演算法
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作 者:
林慧達
Lin, Whe-dar;
- 書刊名:
僑光學報
- 卷 期:
15 1997.10[民86.10]
- 頁 次:
頁95-124
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題 名:
VLSI測試工程簡介:Introduction to VLSI Testing Engineering
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作 者:
邱青松
Chiu, Ching-sung;
- 書刊名:
電腦與通訊
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁39-40
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題 名:
測試圖樣產生技術:
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作 者:
梁新聰
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁42-48
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題 名:
障礙模擬技術:
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作 者:
吳文慶
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁49-53
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題 名:
合成與測試:
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作 者:
周景揚
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁72-77
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題 名:
積體電路測試機:
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作 者:
許孟烈
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁84-95
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題 名:
靜態電流測試法(IDDQ Testing):一種新的積體電路測試方法:
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作 者:
李昆忠
- 書刊名:
電子月刊
- 卷 期:
2:11=16 1996.11[民85.11]
- 頁 次:
頁60-65
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