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題 名:
On the Searching Patterns for Backward-Type Sequential Circuit Test Generation:逆向型序向電路測試圖樣產生法之策略研究
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁315+317-337
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15 1993.03[民82.03]
- 頁 次:
頁48-56
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題 名:
A Directed-Search Test Generation System for Sequential Circuits:導向搜尋法之序向電路測試信號產生器
- 作者:
- 書刊名:
Proceedings of the National Science Council : Part A, Physical Science and Engineering
- 卷 期:
16:1 1992.01[民81.01]
- 頁 次:
頁55-62
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:2 1986.12[民75.12]
- 頁 次:
頁13-22
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1 1984.02[民73.02]
- 頁 次:
頁49-66
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 1988.08[民77.08]
- 頁 次:
頁295-302