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題 名:
尖端科技單晶X光繞射儀的CCD偵測系統:State-of-the-Art Single-Crystal X-Ray Diffractometer CCD System
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:4=144 2005.02[民94.02]
- 頁 次:
頁48-54
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題 名:
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題 名:
LCD反射式增亮膜(DBEF)之微結構分析:The Microstructure Analysis in LCD-DBEF
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
232 民95.04
- 頁 次:
頁137-143
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:4 2010.12[民99.12]
- 頁 次:
頁26-31
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
758 2011.10[民100.10]
- 頁 次:
頁66-79
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
36:1 2010.02[民99.02]
- 頁 次:
頁25-32
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 2007.10[民96.10]
- 頁 次:
頁36-43
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
23:1 2010.03[民99.03]
- 頁 次:
頁33-38
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:11=172 2009.11[民98.11]
- 頁 次:
頁102-110
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題 名:
X光繞射分析在半導體工業上的應用:X-ray Diffraction Utilized in the Semiconductor Industry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:4 2008.12[民97.12]
- 頁 次:
頁6-9
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題 名:
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題 名:
同步輻射掠角X光入射法於奈米薄膜上的分析應用:Grazing-Incidence X-Ray Analysis in Nano Films
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:4 2008.12[民97.12]
- 頁 次:
頁10-14
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題 名: