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題 名:
Maximization of Power Dissipation Under Random Excitation for Burn-In Testing:熱加速測試之隨機輸入圖樣的功率消耗最大化
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
6:2 1999.05[民88.05]
- 頁 次:
頁125-149
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題 名:
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁149-162
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
7 1999.06[民88.06]
- 頁 次:
頁163-181+162
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁687-702
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題 名:
A Behavior-Level Fault Model for the Closed-Loop Operational Amplifier:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁751-766
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題 名:
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題 名:
Identification of Robust Untestable Path Delay Faults:嚴謹式非可測路徑延遲障礙之判定
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁549-559
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題 名: