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檢索結果筆數(4)。 各著作權人授權國家圖書館,敬請洽詢 nclper@ncl.edu.tw
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:3=162 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁9-16
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:3=162 2014.09[民103.09]
- 頁 次:
頁29-36
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- 題 名:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:1=160 2014.03[民103.03]
- 頁 次:
頁20-26
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題 名:
Reliability Assessment of Wafer Level Package Using Artificial Neural Network Regression Model:
- 作者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:6 2019.12[民108.12]
- 頁 次:
頁829-837
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題 名: