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題 名 | 使用FPGA設計通訊測試器 |
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作 者 | 楊昌益; | 書刊名 | 萬能學報 |
卷 期 | 21 1999.08[民88.08] |
頁 次 | 頁245+247-259 |
分類號 | 448.532 |
關鍵詞 | 通訊測試器; 數位電路; FPGA; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 一般市面上的通訊測試器,售價相當昂貴,而提供之功能大約侷限於DTE/DCE之設定、時脈來源(Clock Source)、測試資料(Test Pattern)之設定、自我迴路(loopback)之診斷以及測試結果之統計。這些功能均很適合用數位電路來設計。而目前數位電路設計之方法進步很大,可以以相當便宜的價格之材料,設計出功能強大的產品,目前工業界上普遍使用FPGA來設計複雜的電路。但專科生之電子電路背景仍稍嫌不足,故選定其中之測試資料設定和送收,時脈來源設定和自我迴路之診斷為此次製作之主軸。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。