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題名 | A Synthetic Wavelet Approach to Machine Vision Enhancement and Feature Extraction=小波變換合成係數應用於機器視覺影像強化及特徵萃取 |
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作者 | 傅家啟; 李傳玉; | 書刊名 | 中國機械工程學刊 |
卷期 | 19:6 1998.12[民87.12] |
頁次 | 頁625-632 |
分類號 | 440.8 |
關鍵詞 | 小波變換處理; 機器視覺; 影像強化; Wavelet transforms; Image enhancement; Machine vision; |
語文 | 英文(English) |
英文摘要 | 電腦螢幕表面之塗裝製程區為濕磨、旋轉塗佈、噴霧、烘乾等作業,每一作業皆 可能於螢幕表面上造成瑕疵。由於因濕磨、旋轉塗佈、噴霧等作業所造成之瑕疵如顆粒帶拉 痕、殘膠、幕面不良等與電腦螢幕表面正常部分之對比甚不顯著,因此有效萃取電腦螢幕表 面瑕疵之特徵為成功開發一自動化電腦螢幕表面瑕疵檢測系統之關鍵技術。 本論文將螢幕表面影像經小波變換處理後,以內積運算合成小波變換係數執行電腦螢幕表面 正常部分與瑕疵之對比度強化的功能,再以合成後小波係數共變異矩陣之主對角線萃取瑕疵 之特徵。實驗顯示以小波變換合成係數為基礎之影像強化及萃取演算法可有效偵測灰階值與 電腦螢幕差異甚小之瑕疵,本研究結果顯示小波變換於自動化電腦螢幕表面瑕疵檢測之成功 應可擴展至其他低階值對比度之應用。 ment of automatic monitor screen inspection systems. This paper presents a wavelet-based approach to enhance the monitor screen image and detect defects. In this method, defect images are enhanced by synthesizing the wavelet detail coefficient covariance matrices. Experiments show that the wavelet-based feature detection approach performs satisfactorily in detecting features whose low gray-level contrast confounds traditional methods. The success of the wavelet-based approach in detecting monitor screen defects suggests that it could be potentially useful in other low-contrast imaging applications. |
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