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題名 | Studies of Local Bonding and Chemistry at Internal Interfaces Using Electron Energy Loss Spectroscopy=電子能量損失波譜儀研究內部界面之局部鍵結與化學性質 |
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作 者 | Subramanian,Shanthi; Sass,Stephen. L.; | 書刊名 | 中國工程學刊 |
卷期 | 21:6 1998.11[民87.11] |
頁次 | 頁633-643 |
專輯 | 材料科學與工程 |
分類號 | 337.9 |
關鍵詞 | 局部鍵結; 內部界面; 電子能失儀; Local bonding; Internal interfaces; Electron energy loss spectroscopy; Intermetallic compounds; |
語文 | 英文(English) |
英文摘要 | 內部界面的結構、化學性質、及鍵結的變化,常影響著材料的性質。本文利用穿 透式電子顯微鏡中的能量散佈 X 光光譜儀和高解析度影像,廣泛的來研究介面的結構及成 分。並利用掃描穿透式電子顯微鏡中的電子能失儀來探索在界面中之局部鍵結,因結構與化 學性質改變,所生成效應的一種新型的探測器。本文檢視了電子能失儀、電子結構之間的關 係,並藉著以下例子:(a)B 在 Ni �� Al 及 Ni �� Si 晶界中的偏所效應; (b) Bi 在 Cu 晶界中之偏所效應;(c) 兩金屬 - 陶瓷化合物:Nb-Al �� O �祟M Cu-Al �� O �鬲伬惜W鍵 結的改變。描述此技術獲得的觀察。 istry changes on the local bonding at interfaces. This paper reviews the relationship between EELS and electronic structure and illustrates the insights obtained from this technique with the help of examples which include:a) The effect of B segregation on grain boundaries in Ni �� Al and Ni �� Si. b) The effect of Bi segregation on grain boundaries in Cu. c) Bonding changes at two metal-ceramic interfaces:Nb-Al �� O �� and Cu-Al �� O �� |
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