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來源資料
量測資訊
193 2020.05[民109.05]
頁49-54
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題名
單一顆粒感應耦合電漿質譜線上校正用奈米粒子產生技術
作者
陳相宏
;
林芳新
;
劉益宏
;
書刊名
量測資訊
卷期
193 2020.05[民109.05]
頁次
頁49-54
分類號
448.537
關鍵詞
單一顆粒感應耦合電漿質譜
;
氣膠產生裝置
;
奈米粒子
;
量測
;
語文
中文(Chinese)
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