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題名 | 北韓核試爆對於臺灣半導體產業股價之影響=The Impact of North Korea Nuclear Tests on Semiconductors Stocks in Taiwan |
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作者 | 蔡璧徽; 桂禎; Tsai, B. H.; Guei, J.; |
期刊 | 危機管理學刊 |
出版日期 | 20210300 |
卷期 | 18:1 2021.03[民110.03] |
頁次 | 頁33-46 |
分類號 | 484.51 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 半導體; 北韓; 核試爆; 異常報酬; Semiconductor industry; North Korea; Nuclear tests; Abnormal returns; |