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題名 | 優化動態隨機存取記憶體品質於漏電流改善之實務研究=Practical Study on Optimizing the Quality of Dynamic Random-access Memory for Improving Leakage Current |
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作者 | 王建智; 羅貴利; Wang, Chien-chih; Lo, Kuei-li; |
期刊 | 品質學報 |
出版日期 | 20191200 |
卷期 | 26:6 2019.12[民108.12] |
頁次 | 頁353-365 |
分類號 | 471.651 |
語文 | chi |
關鍵詞 | 萃智; 創新品質; 半導體製程; 驗證實驗; 數據分析; TRIZ; Innovative quality; Semiconductor process; Verification experiment; Data analysis; |