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題名 | 以空間/角解析光電子能譜術研究二維電子系統之能帶結構=Spatially/Angle-resolved Photoemission Studies on the Electronic Structure of Two-dimensional Electron Systems |
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作者 | 陳至瑋; 陳家浩; 吳忠霖; | 書刊名 | 真空科技 |
卷期 | 30:3 2017.09[民106.09] |
頁次 | 頁62-68 |
分類號 | 448.533 |
關鍵詞 | 異質氧化物接面-鋁酸鑭/鈦酸鍶; 石墨烯; 傳統式光電子能譜術; 掃描式光電子能譜術; 角解析光電子能譜術; LAO/STO hetero-oxide interface; Graphene; X-ray photoemission spectroscopy; XPS; Scanning photoelectron micro-spectroscopy; SPEM; Angle-resolved photoemission spectroscopy; ARPES; |
語文 | 中文(Chinese) |