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題 名 | An Overkill Detection and Disposal Suggestion System for Improving Semiconductor Testing |
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作 者 | Ting, Hsin-wen; Hsu, Chi-ming; | 書刊名 | International Journal of Electrical Engineering |
卷 期 | 20:5 2013.10[民102.10] |
頁 次 | 頁179-187 |
分類號 | 448.552 |
關鍵詞 | Reliability; Yield; Testing; Wafer-level testing; Overkill; |
語 文 | 英文(English) |