查詢結果分析
相關文獻
- 大氣壓力游離質譜法近期發展
- 電噴灑輔助雷射脫附游離質譜儀
- 大氣壓力游離質譜法
- VPD/TXRF的基本原理和在半導體製程的應用
- TD-APIMS晶圓表面分析系統介紹
- 紙質文物著生褐斑構成成份之探究
- VPD/TXRF的基本原理和在半導體製程的應用
- Applications of Total Reflection X-ray Fluorescence to Analysis of VLSI Micro Contamination
- Variations of X-ray Spectrum in Total Reflection X-ray Fluorescence (TXRF) Analysis with Respect to Si Wafer Crystal Orientation for Different Incident Angles
- 掃描電容顯微鏡分析技術及其在矽晶圓表面分析之應用
頁籤選單縮合
題名 | 大氣壓力游離質譜法近期發展=Ambient Ionization Mass Spectrometry |
---|---|
作者姓名(中文) | 黃明宗; 鄭儲念; 謝建台; | 書刊名 | 化學 |
卷期 | 69:1 2011.03[民100.03] |
頁次 | 頁25-36 |
專輯 | 分析化學技術進度 |
分類號 | 343.381 |
關鍵詞 | 大氣壓力游離法; 表面分析; 脫附游離法; 電噴灑游離法; 大氣壓力化學游離法; Ambient ionization; Surface analysis; Desorption/ionization; Electrospray ionization; Atmospheric pressure chemical ionization; |
語文 | 中文(Chinese) |