查詢結果分析
相關文獻
頁籤選單縮合
題 名 | An Investigation of Strain Silicon Technology on Highly Strained, Highly Scaled NFET Devices |
---|---|
作 者 | Lu, Chih-cheng; Lei, Tan-fu; Hou, Alex Tuo-hung; Chien, Chao-hsin; Liao, M. H.; Lee, T. L.; Jang, S. M.; | 書刊名 | International Journal of Electrical Engineering |
卷 期 | 16:4 2009.08[民98.08] |
頁 次 | 頁289-294 |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | Strained silicon; Effective mass; Carrier mobility; Drift-diffusion region; Quasi-ballistic/ballistic transport; |
語 文 | 英文(English) |