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題名 | A Methodology with Selective Pattern Compression Schemes on Reducing Test Power and Test Volume |
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作者姓名(外文) | Lin, Chia-yi; Lin, Hsiu-chuan; Chen, Hung-ming; | 書刊名 | International Journal of Electrical Engineering |
卷期 | 17:1 2010.02[民99.02] |
頁次 | 頁75-88 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | DFT; Low power; Scan chain; Compression; Test data volume; |
語文 | 英文(English) |