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| 題 名 | Image-based Hysteresis Modeling and Compensation for an AFM Piezo-scanner |
|---|---|
| 作 者 | Zhang, Yudong; Fang, Yongchun; Zhou, Xianwei; Dong, Xiaokun; | 書刊名 | Asian Journal of Control |
| 卷 期 | 11:2 2009.03[民98.03] |
| 頁 次 | 頁166-174 |
| 分類號 | 471.7 |
| 關鍵詞 | Atomic force microscope; AFM; Hysteresis; Image; Modeling; Compensation; |
| 語 文 | 英文(English) |