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題 名 | A Novel Reseedling Mechanism for Improving Pseudo-Random Testing of VLSI Circuits |
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作 者 | Rau, Jiann-chyi; Wu, Po-han; Ho, Ying-fu; | 書刊名 | 淡江理工學刊 |
卷 期 | 11:2 2008.06[民97.06] |
頁 次 | 頁175-184 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | BIST; LFSR; Pseudo-random testing; Reseeding; |
語 文 | 英文(English) |