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題名 | 液晶顯示器模組之加速壽命試驗實證研究與統計分析--以串性干擾現象為例=Empirical and Statistical Evaluation for the Accelerated Life Test of LCD Module--Crosstalk Phenomenon as an Example |
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作者姓名(中文) | 陳永璋; 李佩熹; 黃靖雯; 徐國華; | 書刊名 | 品質學報 |
卷期 | 13:1 民95.03 |
頁次 | 頁21-33 |
分類號 | 448.5 |
關鍵詞 | 液晶顯示器模組; 加速壽命試驗; 韋氏分配; 串信干擾; LCD modules; Accelerated life testing; Weibull distribution; Crosstalk; |
語文 | 中文(Chinese) |