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題 名 | Apply Machine Vision to the Inspection of PU-Packing |
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作 者 | Chiou, Yih-chih; Li, Wei-chen; | 書刊名 | Chung Hua Journal of Science and Engineering |
卷 期 | 4:2 民95.06 |
頁 次 | 頁57-62 |
分類號 | 448.94 |
關鍵詞 | Automatic optical inspection; Line scan; Flaw detection; Seal element; |
語 文 | 英文(English) |