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題名 | IC構裝/測試廠WIP應用實例簡介= |
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作者 | 李嘉柱; |
期刊 | 機械工業 |
出版日期 | 19970700 |
卷期 | 172 1997.07[民86.07] |
頁次 | 頁161-170 |
分類號 | 448.945 |
語文 | chi |
關鍵詞 | IC構裝/測試廠; WIP; Work-in-process; |
中文摘要 | 由於客戶之要求與現場管理上之需求,在製品( Work-In-Process,簡稱 WIP ) 之管理在半導體之構裝 / 測試廠為其重要課題之一。 WIP 管理系統之主要目的為追蹤( Tracking )工廠現場之生產批( LOT )的生產歷程(如所作之作業站與數量等),使得現 場資料可即時地與正確地被記錄下來,以期達到現場決策與業務決策準確與快速化之效果。 本文主要目的為介紹工研院機械所開發之半導體之構裝 / 測試 WIP 管理系統(又稱 MIRL WIP 系統)架構特色及其應用之現況。 其主要內容介紹如下:首先, 說明『電腦化』 WIP 系統對 IC 構裝 / 測試廠之重要性及對於 IC 構裝 / 測試廠流程作一介紹。其次,介紹機 械所開發之 WIP 系統之架構與特色作一簡單之介紹。再者,以 IC 構裝 / 測試廠實例說明 本系統之應用情形。最後,為本文之結論與未來 WIP 系統發展趨勢。 |
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