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題名 | 積層陶瓷電容表面瑕疵之檢測與分類=The Detection and Classification of MLCC's Surface Defects |
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作者 | 邱奕契; 林憲忠; | 書刊名 | 中華理工學刊 |
卷期 | 3:2 2005.03[民94.03] |
頁次 | 頁55-60 |
分類號 | 448.533 |
關鍵詞 | 影像分割; 特徵抽取; 瑕疵分類; MLCC; Image segmentation; Feature extraction; Flaw classification; |
語文 | 中文(Chinese) |