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題 名 | Characterization of the Effects of Vanadium Traps in Cracking Catalysts by Imaging Secondary Ion Mass Spectrometry and Microactivity Test |
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作 者 | 林龍輝; 趙桂蓉; 凌永健; 黃建富; 候亮源; | 書刊名 | Journal of the Chinese Chemical Society |
卷 期 | 44:6 1997.12[民86.12] |
頁 次 | 頁553-558 |
分類號 | 340 |
關鍵詞 | Vanadium trapping in cracking catalysts; SIMS; Microactivity test; |
語 文 | 英文(English) |