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來源資料
吳鳳學報
11 2003.05[民92.05]
頁341-348
電機工程
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DRAM之異常異物、Laser-Mark與Poly-Fuse橋接缺陷分析及目前解決方法
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題 名
DRAM之異常異物、Laser-Mark與Poly-Fuse橋接缺陷分析及目前解決方法
作 者
劉博文
;
書刊名
吳鳳學報
卷 期
11 2003.05[民92.05]
頁 次
頁341-348
分類號
448.57
關鍵詞
故障分析及可靠性
;
OGQC
;
DRAM
;
Laser-mark
;
Poly-fuse
;
語 文
中文(Chinese)
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