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題名 | Structure-Based Specification-Constrained Test Frequency Generation for Linear Analog Circuits |
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作者姓名(中文) | 張順志; 李崇仁; 陳竹一; | 書刊名 | Journal of Information Science and Engineering |
卷期 | 19:4 2003.07[民92.07] |
頁次 | 頁637-651 |
分類號 | 448.532 |
關鍵詞 | Test pattern generation; Analog IC test; Structural test; Specification test; Monte-Carlo analysis; |
語文 | 英文(English) |