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題 名 | 球格陣列(BGA)基板表面瑕疵檢測=A Non-Referential Machine Vision Approach for BGA Substrate Inspection |
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作 者 | 謝坤翰; 蔡篤銘; | 書刊名 | 工業工程學刊 |
卷 期 | 20:2 2003.03[民92.03] |
頁 次 | 頁125-138 |
分類號 | 494.568 |
關鍵詞 | 機器視覺; 瑕疵檢測; 霍氏轉換法; Machine vision; Ball grid array; BGA; Inspection; Defect detection; Hough transform; |
語 文 | 中文(Chinese) |