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題 名 | 非晶質與奈米材料之X光吸收光譜研究 |
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作 者 | 林中魁; 李明宗; 李丕耀; 林鴻明; 張六文; 陳志雄; | 書刊名 | 真空科技 |
卷 期 | 15:1 2002.04[民91.04] |
頁 次 | 頁23-33 |
分類號 | 440.39 |
關鍵詞 | 非晶質合金; 奈米材料; X光吸收光譜; 金屬玻璃; Amorphous alloys; Metallic glasses; |
語 文 | 中文(Chinese) |
中文摘要 | 利用同步輻射光源對材料進行X光吸收光譜研究,包括X光近緣結構(可以用來檢測材料中特定原子之電子組態)及延伸X光吸收精細結構(可用來測定原子之區域結構)兩大部份。在本文中,我們介紹了X光吸收光譜的基本原理,並以一些非晶質及奈米材料之研究,如機械合金法合成之非晶質合金粉末、氣凝合成法合成之奈米TiO2粉末及循環伏安法製備之RuO2薄膜等,做實例說明。藉由X光吸收光譜在原子短程結構及電子組態上檢測與分析之優點,與傳統X光繞射法長程有序分析結果相互配合,可使我們更加了解非晶質及奈米材料之結構特性。 |
本系統中英文摘要資訊取自各篇刊載內容。