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題 名 | 電導度法檢定落花生種子活力之研究=Studies on the Electrical Conductivity Test for the Seeds Viability of Peanut |
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作 者 | 侯金日; 劉景平; 郭華仁; | 書刊名 | 中華農藝 |
卷 期 | 10:2 2000.06[民89.06] |
頁 次 | 頁131-142 |
分類號 | 434.253 |
關鍵詞 | 落花生; 種子; 發芽率; 田間出土率; 活力檢定; 電導度法; Peanut; Seeds; Germination percentage; Field emergence; Viability test; Electrical conductivity test; |
語 文 | 中文(Chinese) |