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題 名 | Measurements of Moire Interferometry at Elevated Temperatures=Moire Interferometry在溫度環境下之變形量測 |
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作 者 | 吳肇哲; | 書刊名 | 大漢學報 |
卷 期 | 15 2000.11[民89.11] |
頁 次 | 頁155-172 |
分類號 | 440.12 |
關鍵詞 | 干涉量測; 敏感度; 光柵; 干涉條紋; 變形; Moire interferometry; Sensitivity; Grating; Fringes; Deformation; |
語 文 | 英文(English) |