查詢結果分析
相關文獻
頁籤選單縮合
題 名 | Testable Path Delay Fault Cover for Sequential Circuits |
---|---|
作 者 | Krstic,Angela; Chakradhar,Srimat T.; Cheng,Kwang-ting; | 書刊名 | Journal of Information Science and Engineering |
卷 期 | 16:5 2000.09[民89.09] |
頁 次 | 頁673-686 |
專 輯 | Special Issue on VLSI Testing |
分類號 | 448.57 |
關鍵詞 | Delay testing; Path delay faults; Timing defects; Sequential circuits; Untestable path delay faults; |
語 文 | 英文(English) |