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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
42 2000.04[民89.04]
- 頁 次:
頁38-43
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52 2002.10[民91.10]
- 頁 次:
頁56-61
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
49 2002.01[民91.01]
- 頁 次:
頁22-24
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 2015.01[民104.01]
- 頁 次:
頁291-300
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
11 2015.01[民104.01]
- 頁 次:
頁335-342
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題 名:
過去40年到現今的品質與可靠度驗證手法之一--應力篩選:Stress Screening Methods by 40 Years of Continuous Evolution
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52:6 2016.06[民105.06]
- 頁 次:
頁19-25
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52:6 2016.06[民105.06]
- 頁 次:
頁26-32
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題 名:
執行產品可靠度的疑惑和解答:The Doubt and Answer to Perform Product Reliability
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
52:6 2016.06[民105.06]
- 頁 次:
頁33-36
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
401 2016.08[民105.08]
- 頁 次:
頁108-119
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
39:1 2011.01[民100.01]
- 頁 次:
頁87-98
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
4:3 2009.07[民98.07]
- 頁 次:
頁213-218
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題 名:
液晶顯示器產品之壽命的統計學估計研究:LCD Module Life Analysis Based on Life Test
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8 民95.07
- 頁 次:
頁103-115
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題 名:
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題 名:
Reliability Life Estimation of Products Using Accelerated Life-Testing:使用加速壽命試驗進行產品可靠度壽命估計
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:1 2007.02[民96.02]
- 頁 次:
頁35-43
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
12 2007.09[民96.09]
- 頁 次:
頁39-53
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題 名:
應用廣義韋伯競爭失效模式於加速壽命試驗:A Generalized Weibull Competing Failure Mode Approach to Accelerated Life Test
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
3 2007.01[民96.01]
- 頁 次:
頁145-153
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題 名:
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題 名:
迴歸分析法應用於貯存壽命評估之探討:Regression Analysis on Storage Life Estimation of Products
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16 2020.01[民109.01]
- 頁 次:
頁135-140
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
5 2009.01[民98.01]
- 頁 次:
頁287-296
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
13:1 民95.03
- 頁 次:
頁21-33
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題 名:
第五代行動通訊技術5G晶片的可靠度分析與評估:A Case Study of Reliability Analysis & Evaluation for Mobile 5G Chipset
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
56:7 2020.07[民109.07]
- 頁 次:
頁28-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
29:6 2022.12[民111.12]
- 頁 次:
頁502-518