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題 名:
A Two-Phase Fault Simulation Scheme for Sequential Circuits:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:3 1998.09[民87.09]
- 頁 次:
頁669-686
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
35:2 1998.07[民87.07]
- 頁 次:
頁185-213
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
21 1998.12[民87.12]
- 頁 次:
頁37-67
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
26:2 1998.05[民87.05]
- 頁 次:
頁21-29
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁327-344
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:6 1999.11[民88.11]
- 頁 次:
頁899-911
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題 名:
Configuration Free SOC Interconnect BIST Methodology:與設計無關之單晶片系統連接線自我測試方法
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2001.11[民90.11]
- 頁 次:
頁377-386
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4/32:1 民90.夏-秋
- 頁 次:
頁99-115
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁673-686
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁687-702
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁733-750
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
16:5 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁783-794
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
2:2 2000.11[民89.11]
- 頁 次:
頁37-56
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
28:4 2000.12[民89.12]
- 頁 次:
頁409-424
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
47:1 2000.02[民89.02]
- 頁 次:
頁57-62
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題 名:
CCL JAVA整合型晶片測試方法:Testing Method for CCL JAVA Based System on Chip
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
90 2000.06[民89.06]
- 頁 次:
頁65-68
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題 名:
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題 名:
落花生種皮顏色之遺傳研究:Inheritance of the Testa Color in Peanut (Arachis hypogaea L.)
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:3 2000.09[民89.09]
- 頁 次:
頁155-160
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題 名:
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題 名:
Identification of Robust Untestable Path Delay Faults:嚴謹式非可測路徑延遲障礙之判定
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:5 1997.09[民86.09]
- 頁 次:
頁549-559
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
70 1998.06[民87.06]
- 頁 次:
頁41-51
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