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即時影像擷取RHEED強度震盪以決定分子束磊晶之薄膜成長:
黃俊元 林時彥 陳書涵 邱培晉 周淑婷 綦振瀛 張亞中
機電整合
108 2007.08[民96.08]
頁167-171
TCI引用統計