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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
219 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁134-140
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
234 2002.09[民91.09]
- 頁 次:
頁169-177
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題 名:
散射儀於半導體奈米製程檢測之應用:Scatterometry for Semiconductor Manufacturing Process Control
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁119-126
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27 民94.09
- 頁 次:
頁45-89
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
119 2008.01[民97.01]
- 頁 次:
頁34-37
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題 名:
光學式奈米結構檢測新技術:Optical Image-based Nano-scale Dimensional Metrology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
279 民95.06
- 頁 次:
頁69-75
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
44:1 2023.02[民112.02]
- 頁 次:
頁23-35
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題 名:
A Survey on the Lace Expansion for the Nearest-neighbor Models on the BCC Lattice:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
24:3 2020.06[民109.06]
- 頁 次:
頁723-784
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
436 2023.04[民112.04]
- 頁 次:
頁51-64
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