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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
90 2003.03[民92.03]
- 頁 次:
頁33-37
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
53 2012.10[民101.10]
- 頁 次:
頁17-27
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題 名:
3C組裝線之瑕疵檢測系統:The Defect Detection System for 3C Assembly Line
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
352 2012.07[民101.07]
- 頁 次:
頁9-14
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
8:4 2013.10[民102.10]
- 頁 次:
頁259-267
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題 名:
電路板置件檢測之簡介與探討:Introduction to Component Inspection of Circuit Boards
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
365 2013.08[民102.08]
- 頁 次:
頁88-93
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題 名:
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題 名:
具位移容忍之快速印刷電路板線路瑕疵檢測:A Fast, Shift-Tolerable Approach for PCB Conductive Paths Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
10:2 2004.06[民93.06]
- 頁 次:
頁22-39
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
340 2011.07[民100.07]
- 頁 次:
頁3-10
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
14:2=151 2008.02[民97.02]
- 頁 次:
頁189-205
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題 名:
Development of an Automated Optical Inspection System for Mobile Phone Panels:手機面板自動光學檢測系統之研製
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
34:2 2013.04[民102.04]
- 頁 次:
頁103-108
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題 名:
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題 名:
基於機器視覺之布料對色檢測研究:Machine Vision Based Color Matching Defects Detection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
32:1 2022.01[民111.01]
- 頁 次:
頁53-57
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
40:2=172 2024.06[民113.06]
- 頁 次:
頁44-90
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
454 2021.01[民110.01]
- 頁 次:
頁13-18
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題 名:
基於U型神經網路應用於紡織品數位之自動光學檢測檢驗:U-net-based Automated Fabric Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:2 2021.04[民110.04]
- 頁 次:
頁69-75
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題 名:
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題 名:
基於深層殘差卷積網路應用於紡織品數位之對花檢驗:Deep Residual Network-based Automated Fabric Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:2 2021.04[民110.04]
- 頁 次:
頁76-79
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題 名:
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題 名:
基於色彩模型的布料色差檢測研究:Color Model Based Difference Defect Detection for Fabric Inspection
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
31:4 2021.10[民110.10]
- 頁 次:
頁58-61
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
27:1 2021.03[民110.03]
- 頁 次:
頁95-108
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題 名:
智慧工廠的節能減碳論述:Discussion on Energy Conservation and Carbon Reduction in Smart Factories
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
482 2023.05[民112.05]
- 頁 次:
頁13-21
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
48:1=192 2022.06[民111.06]
- 頁 次:
頁25-36
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題 名:
半導體先進封裝製程量測技術:Semiconductor Advanced Packaging Process Measurement Technology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
499 2024.10[民113.10]
- 頁 次:
頁51-57
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題 名:
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題 名:
半導體工業中的自動光學檢測發展:Development of Automated Optical Inspection in the Semiconductor Industry
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
499 2024.10[民113.10]
- 頁 次:
頁6-11
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題 名:
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