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Oxide Charging Effects Induced by Plasma Hydrogenation on Poly-si Thin Film Transistors:電漿氫化過程中所引起的氧化層電荷對薄膜電晶體的影響
陳啟文 Chen, Chii-wen;
明新學報
19 民86.11
頁187-194
TCI引用統計