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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 2013.03[民102.03]
- 頁 次:
頁26-33
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題 名:
內連接導線系統之可靠度--銅導線/低介電絕緣層:Reliability of Cu/Low-k Interconnects
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:1 2013.03[民102.03]
- 頁 次:
頁34-42
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題 名:
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題 名:
淺談半導體內連接導線可靠度工程技術:Reliability Engineering for Back-end-of-line Interconnects of Integrated Circuits
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:1 2020.03[民109.03]
- 頁 次:
頁24-39
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題 名: