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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
219 2001.06[民90.06]
- 頁 次:
頁134-140
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題 名:
散射儀於半導體奈米製程檢測之應用:Scatterometry for Semiconductor Manufacturing Process Control
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
267 2005.06[民94.06]
- 頁 次:
頁119-126
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
15:8=169 2009.08[民98.08]
- 頁 次:
頁86-95
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題 名:
光學式奈米結構檢測新技術:Optical Image-based Nano-scale Dimensional Metrology
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
279 民95.06
- 頁 次:
頁69-75
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
33:5=382 2007.05[民96.05]
- 頁 次:
頁18-27
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
87 2024.02[民113.02]
- 頁 次:
頁15-22
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
194 2020.07[民109.07]
- 頁 次:
頁18-25
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
201 2021.09[民110.09]
- 頁 次:
頁15-22
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
235 2023.06[民112.06]
- 頁 次:
頁76-87