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題 名:
應用超音波量測薄層系統的材料常數:Measuring Material Constants of Thin Layered Media by Using the Ultrasonic Method
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
74 1998.10[民87.10]
- 頁 次:
頁111-137
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題 名:
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- 題 名:
- 作 者:
- 書刊名:
- 卷 期:
20:4 2002.12[民91.12]
- 頁 次:
頁303-307