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Parametric Analysis of Free Surface and Film-Substrate Interface Relaxation for Thin Films by X-Ray Diffraction Techniques:晶體薄膜表層自由面及與基板臨界面之X 光繞射參數分析
夏鑽禧
電工
27:6 1984.12[民73.12]
頁34-54
TCI引用統計